半導體工業用紅外測溫儀

型號

DA44MF

測溫范圍

50 ~1000 °C

子測溫范

在測溫范圍內可通過RS485通信接口調節，最小跨度50°C

光譜范圍

3.5~4.0 μm

光學系數

多種固定光學系數 (100, 300及800), 光圈直徑 D = 15

距離系數

約50 : 1

測量誤差

0.6 %測量值°C或1K ²

重復精度

0.3 % 測量值°C或0.5K ²

NETD

0.1 K ⁴

響應時間(t⁹⁵)

5 ms, 可通過RS485通信接口調節

發射率

0.050~1.000, 可通過RS485通信接口調節

存儲方式

最小值、最大值存儲，可通過RS485通信接口調節

輸出信號

0/4~20 mA, 線性溫度, 最大負荷: 700 Ω @24 V

通信接口

RS485 (電隔離), 半雙工, 最大波特率115 kBd, 數據協議Modbus RTU

瞄準方式

無，可選：內置LED瞄準燈或外置激光瞄準適配器

軟件

Windows?下PYROSOFT Spot , 可選: PYROSOFT Spot Pro

可調參數

發射率、響應時間、子測溫范圍，可通過RS485通信接口及軟件調節

供電電源

24 V DC ± 25 %, 殘留紋波500 mV

功耗

最大1.5 W (沒有瞄準燈時)

操作溫度

0~70 °C

存儲溫度

–20~70 °C

重量

約450 g

尺寸

螺紋M40 × 1.5, 長度 126 mm

外殼

不銹鋼，帶插頭

防護等級

IP 65 (符合DIN EN 60529及DIN 40050)